王凯宏,男,1992年生,博士,讲师,硕士生导师。主要研究方向为面向新能源应用的大容量功率半导体器件和关键储能元件的可靠性研究,包括:大功率多芯片半导体器件的可靠性研究、宽禁带功率半导体器件的可靠性与应用研究,和锂电池状态监测与健康管理研究等。主要在《IEEE Transactions on Power Electronics》和《IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics》等国际高水平SCI期刊上发表多篇论文。目前担任多个SCI期刊的审稿人。
代表性成果:
(1) Kaihong Wang, Luowei Zhou, Pengju Sun, Xiong Du; Monitoring Bond Wires Fatigue of Multichip IGBT Module Using Time Duration of The Gate Charge, IEEE Transactions on Power Electronics, 2021, 36(1): 888-897
(2) Kaihong Wang, Luowei Zhou, Pengju Sun, Xiong Du; Monitoring Bond Wires Defects of IGBT Module Using Module Transconductance, Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics, 2021, 9(2): 2201-2211.
授权专利:
(1) 王凯宏; 周雒维; 孙鹏菊等; 多芯片IGBT模块键合线缺陷的监测电路及监测方法, 2021-4-20, 中国, ZL202010512891.4.
(2) 王凯宏; 周雒维; 孙鹏菊等; 基于门极电荷变化的IGBT模块内部缺陷监测方法及电路, 2022-3-1, 中国, ZL202011016747.8.
联系方式:
E-mail:wangkaihong@ctgu.edu.cn
地点:三峡大学电气与新能源学院电气实验楼D203室
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